I. Введение в выставку
Нюрнбергская выставка датчиков и тест-систем 2024 (SENSOR+TEST 2024) прошла в Нюрнбергском международном выставочном центре в Германии с 11 по 13 июня. Организатором выставки выступает Немецкая ассоциация датчиков и измерительной техники (AMA). С 1982 года она успешно проводится в течение 23 сессий и стала одной из самых профессиональных и крупных выставок в мире в области датчиков и испытательно-измерительной техники.
Эта выставка привлекла 383 компании из 29 стран и регионов к участию в выставке, с более чем 5,000 профессиональными посетителями. Помимо Германии, странами с наибольшим количеством экспонентов являются Китай, США, Швейцария, Великобритания и Франция. Выставка объединила ведущих мировых производителей сенсорных и испытательных технологий, таких как Honeywell, Acal, PCB Piezotronics, Endress+Hauser, Safran Sensing и т. д. В выставке также приняли участие такие отечественные компании, как Henan Hanwei, Xi'an Zhongxing, Shenzhen Amperon, Hangzhou Melake.
Ⅱ.Информация о выставке
Среди основных экспонатов компании — универсальные аналоговые датчики, датчики тока Холла, комбинированные датчики электрических параметров постоянного тока, высоковольтные и высокоизолированные датчики, счетчики электроэнергии постоянного тока и универсальные датчики.
Выставка проходила с 11 по 13 июня в течение трех дней. Основными посетителями были руководители компаний, сотрудники отдела маркетинга, инженеры и сотрудники отдела закупок.
Эта выставка не только демонстрирует новейшие датчики и технологии испытаний и измерений, но и предоставляет непревзойденную платформу для общения и сотрудничества для инженеров, персонала НИОКР, маркетологов и лиц, принимающих решения в отрасли по всему миру. Мы с нетерпением ждем встречи с вами на будущих выставках, чтобы совместно исследовать и создавать больше сенсорных технологий. Давайте двигаться вперед рука об руку, движимые инновациями и соединенные сотрудничеством, чтобы совместно приветствовать более блестящее будущее в области датчиков и технологий испытаний и измерений.
